通过HDtune和CrystalDiskInfo看硬盘状态是否健康！(7)

而启停计数（04）表示硬盘主轴电机的启动/停止（硬盘在运行时可能多次启停，如系统进入休眠或被设置为空闲多少时间而关闭）。所以大多情况下这个通电/断电的次数会小于启停计数（04）的次数。通常，硬盘设计的通电次数都很高，如至少5000次，因此这一计数只是寿命参考值，本身不具指标性。0D（013）软件读取错误率 Soft Read Error Rate软件读取错误率也称为可校正的读取误码率，就是报告给操作系统的未经校正的读取错误。数据值越低越好，过高则可能暗示盘片磁介质有问题。AA（170）坏块增长计数 Grown Failing Block Count（Micron 镁光）读写失败的块增长的总数。AB（171）编程失败块计数 Program Fail Block CountFlash编程失败块的数量。
AC（172）擦写失败块计数 Erase Fail Block Count擦写失败块的数量。AD（173）磨损平衡操作次数（平均擦写次数） / Wear Leveling Count（Micron 镁光）所有好块的平均擦写次数。Flash芯片有写入次数限制，当使用FAT文件系统时，需要频繁地更新文件分配表。如果闪存的某些区域读写过于频繁，就会比其它区域磨损的更快，这将明显缩短整个硬盘的寿命（即便其它区域的擦写次数还远小于最大限制）。所以，如果让整个区域具有均匀的写入量，就可明显延长芯片寿命，这称为磨损均衡措施。AE（174）意外失电计数 Unexpected Power Loss Count硬盘自启用后发生意外断电事件的次数。B1（177）磨损范围对比值 Wear Range Delta磨损最重的块与磨损最轻的块的磨损百分比之差。
B4（180）未用的备用块计数 Unused Reserved Block Count Total（惠普）固态硬盘会保留一些容量来准备替换损坏的存储单元，所以可用的预留空间数非常重要。这个参数的当前值表示的是尚未使用的预留的存储单元数量。B5（181）编程失败计数 Program Fail Count用4个字节显示已编程失败的次数，与（AB）参数相似。B5（181）非4KB对齐访问数 Non-4k Aligned Access（Micron 镁光）B6（182）擦写失败计数 Erase Fail Count用4个字节显示硬盘自启用后块擦写失败的次数，与（AC）参数相似。B7（183）串口降速错误计数 SATA Downshift Error Count这一项表示了SATA接口速率错误下降的次数。