硬盘SMART参数详解(14)

CA（202）剩余寿命 Percentage Of The Rated Lifetime Used（Micron 镁光芯片）
当前值从100开始下降至0，表示所有块的擦写余量统计。计算方法是以MLC擦写次数除以50，SLC擦写次数除以1000，结果取整数，将其与100的差值作为当前值（MLC预计擦写次数为5000，SLC预计擦写次数为100000）。
CB（203）软件ECC错误数 Run Out Cancel
错误检查和纠正（ECC）出错的频度。
CC（204）软件ECC校正 Soft ECC Correction
通过软件ECC纠正错误的计数。
CD（205）热骚动错误率 Thermal Asperity Rate (TAR)
由超温导致的错误。数据值应为0。
CE（206）磁头飞行高度 Flying Height
磁头距离盘片表面的垂直距离。高度过低则增加了磁头与盘片接触导致损坏的可能性；高度偏高则增大了读写错误率。不过准确地说，硬盘中并没有任何装置可以直接测出磁头的飞行高度，制造商也只是根据磁头读取的信号强度来推算磁头飞行高度。
CE（206）底层数据写入出错率 Write Error Rate
CF（207）主轴过电流 Spin High Current
数据值记录了主轴电机运行时出现浪涌电流的次数，数据量的增加意味着轴承或电机可能有问题。
D0（208）主轴电机重启次数 Spin Buzz
数据值记录了主轴电机反复尝试启动的次数，这通常是由于电源供电不足引起的。
D1（209）脱机寻道性能 Offline Seek Performance
这一项表示驱动器在脱机状态下的寻道性能，通常用于工厂内部测试。
D2（210）斜坡加载值 Ramp Load Value
这一项仅见于几年前迈拓制造的部分硬盘。通常数据值为0，意义不明。
D3（211）写入时振动 Vibration During Write
写入数据时受到外部振动的记录。
D4（212）写入时冲击 Shock During Write
写入数据时受到受到外部机械冲击的记录。
DC（220）盘片偏移量 Disk Shift