2022年全面质量管理(习题集及答案)(53)

B.组内波动应大于组间波动
C.子组内应不存在差异
D.子组内的波动应由随机因素导致
2.企业准备采用控制图监控半导体的生产，每天统计报废产品数量，且每天产量变化，应使用的以下控制图是
（ B ）。
A.p 图或 np 图
B.只能使用 p 图
C.使用 c 图或 u 图
D.只能使用 u 图
3.常规控制图一般有 8 个判断异常的检验准则，假设每个检验的虚发警报概率都是 0.27%,且每个虚发警报都是独立的，那么同时使用 8 个检验准则，则虚发警报的概率会增加至（ C ）。
A.0.5%
B.1%
C.2%
D.3%
4.从生产线上收集一周的数据，汇总如下表，如果实施统计过程控制，选择以下控制图最合适的是（ C ）。

A.均值-极差控制图
B.np 控制图
C.p 控制图
D.u 控制图
5.普通因素通常引起过程随机波动，下面属于普通因素的是（ D ）。
A.错误的工具
B.不适当的材料
C.机器的不适当调整
D.材料硬度的微小变化
6.某工程师经过分析，选择使用 Xbar-S 控制图进行过程控制，构造该控制图时正确的抽样方式是（ C ）。
A.以最方便的方式抽取子组，子组大小为 10
B.在生产线上随机抽取子组，子组大小为 5
C.按照生产次序抽取子组，子组大小为 10
D.按照生产批次抽取，子组大小为 5
7.控制图的上下控制限与上下公差限的关系是（ D ）。
A.上下控制限的范围一定与上下公差限的范围相同
B.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围宽
C.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围窄
D.上下控制限的范围与上下公差限的范围是相互独立的