硬盘SMART参数详解(8)

0A（010）主轴起旋重试次数 Spin up Retry Count
数据应为0，当前值应大于临界值。
主轴起旋重试次数的数据值就是主轴电机尝试重新启动的计数，即主轴电机启动后在规定的时间里未能成功达到额定转速而尝试再次启动的次数。数据量的增加表示电机驱动电路或是机械子系统出现问题，整机供电不足也会导致这一问题。
0B（011）磁头校准重试计数 Calibration Retry Count
数据应为0，当前值应远大于与临界值。
硬盘在温度发生变化时，机械部件（特别是盘片）会因热胀冷缩出现形变，因此需要执行磁头校准操作消除误差，有的硬盘还内置了磁头定时校准功能。这一项记录了需要再次校准（通常因上次校准失败）的次数。
这一项的数据量增加，表示电机驱动电路或是机械子系统出现问题，但有些型号的新硬盘也有一定的数据量，并不表示有问题，还要看当前值和最差值。
0C（012）通电周期计数 Power Cycle Count
通电周期计数的数据值表示了硬盘通电/断电的次数，即电源开关次数的累计，新硬盘通常只有几次。
这一项与启停计数（04）是有区别的，一般来说，硬盘通电/断电意味着计算机的开机与关机，所以经历一次开关机数据才会加1；而启停计数（04）表示硬盘主轴电机的启动/停止（硬盘在运行时可能多次启停，如系统进入休眠或被设置为空闲多少时间而关闭）。所以大多情况下这个通电/断电的次数会小于启停计数（04）的次数。
通常，硬盘设计的通电次数都很高，如至少5000次，因此这一计数只是寿命参考值，本身不具指标性。
0D（013）软件读取错误率 Soft Read Error Rate
软件读取错误率也称为可校正的读取误码率，就是报告给操作系统的未经校正的读取错误。数据值越低越好，过高则可能暗示盘片磁介质有问题。
AA（170）坏块增长计数 Grown Failing Block Count（Micron 镁光）
读写失败的块增长的总数。
AB（171）编程失败块计数 Program Fail Block Count
Flash编程失败块的数量。
AC（172）擦写失败块计数 Erase Fail Block Count
擦写失败块的数量。