硬盘SMART参数详解(9)

AD（173）磨损平衡操作次数（平均擦写次数） / Wear Leveling Count（Micron 镁光）
所有好块的平均擦写次数。
Flash芯片有写入次数限制，当使用FAT文件系统时，需要频繁地更新文件分配表。如果闪存的某些区域读写过于频繁，就会比其它区域磨损的更快，这将明显缩短整个硬盘的寿命（即便其它区域的擦写次数还远小于最大限制）。所以，如果让整个区域具有均匀的写入量，就可明显延长芯片寿命，这称为磨损均衡措施。
AE（174）意外失电计数 Unexpected Power Loss Count
硬盘自启用后发生意外断电事件的次数。
B1（177）磨损范围对比值 Wear Range Delta
磨损最重的块与磨损最轻的块的磨损百分比之差。
B4（180）未用的备用块计数 Unused Reserved Block Count Total（惠普）
固态硬盘会保留一些容量来准备替换损坏的存储单元，所以可用的预留空间数非常重要。这个参数的当前值表示的是尚未使用的预留的存储单元数量。
B5（181）编程失败计数 Program Fail Count
用4个字节显示已编程失败的次数，与（AB）参数相似。
B5（181）非4KB对齐访问数 Non-4k Aligned Access（Micron 镁光）
B6（182）擦写失败计数 Erase Fail Count
用4个字节显示硬盘自启用后数据块擦写失败的次数，与（AC）参数相似。
B7（183）串口降速错误计数 SATA Downshift Error Count
这一项表示了SATA接口速率错误下降的次数。通常硬盘与主板之间的兼容问题会导致SATA传输级别降级运行。
B8（184）I/O错误检测与校正 I/O Error Detection and Correction（IOEDC）
“I/O错误检测与校正”是惠普公司专有的SMART IV技术的一部分，与其他制造商的I/O错误检测和校正架构一样，它记录了数据通过驱动器内部高速缓存RAM传输到主机时的奇偶校验错误数量。
B8（184）点到点错误检测计数 End to End Error Detection Count