半导体检测量测设备行业研究:芯片良率守护者,短板突破正当时(6)

2023-04-29 来源:飞速影视
MueTec等公司产品线虽然较广,但资金实力和产品全球竞争力相对较弱,通过收并 购有利于充分发挥产业协同优势。长川科技(STI)、赛腾股份(Optima)、天准 科技(MueTec)所能覆盖的产品份额分别为6.3%、9.7%、50.5%,具体表现为:
(1)长川科技(STI):聚焦于光学检测领域,除提供分选、测试设备之外,其iFcous 晶圆光学检测机能在晶圆制造前道、封装环节进行晶圆检测。其主要客户为德州仪 器、美光、意法半导体、三星、日月光、安靠技术等。
(2)赛腾股份(Optima):主要从事半导体晶圆检查设备和曝光设备的开发,其 主要产品为无图形晶圆缺陷检测设备,包括硅片边缘缺陷、晶圆背面、针孔缺陷检 测机,其主要客户为三星、索尼等。
(3)天准科技(MueTec):深耕检测量测行业30余年,其检测产品包括晶圆宏观 缺陷、晶圆微缺陷、晶圆切割后、掩膜版、红外线检测设备,量测产品包括关键尺 寸、套刻精度、薄膜膜厚、掩膜版、红外线量测设备。主要服务于晶圆制造、先进 封装、光掩模版、MEMS、OLED、LED等先进制造商,主要客户包括英飞凌、恩智 浦、台积电等。

半导体检测量测设备行业研究:芯片良率守护者,短板突破正当时


(三)先进制程:细分品类研发验证为主,部分领域获得突破
海外企业大都具备先进制程覆盖能力,本土企业细分产品研发端持续突破,部分产 品已通过客户验证。海外科磊半导体、应用材料、创新科技、新星测量仪器均能覆盖28nm以下先进制程。本土企业中,上海睿励薄膜膜厚测量TFX4000i系列设备突 破5nm制程,产品已交付客户,同时TFX3000系列产品正在14nm芯片生产线进行验 证;中科飞测套刻精度量测适用于2Xnm以下制程,已取得两家客户订单,同时应用 于1Xnm的无图形晶圆缺陷检测设备正在研发中。

四、内生 外延,中国检测量测企业发展潜力巨大


(一)深耕质量控制行业,产品品类持续拓展
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